xrf检测限值（LOD， limit of detection）又称为检出限，指由基质空白所产生的仪器背景信号的3倍值的相应量，或者以基质空白产生的背景信号平均值加上3倍的均数标准差。

是方法（方法检测限MDL）和仪器（仪器检测限IDL）灵敏度体现的重要指标之一。