莫氏条纹由遮光效应、衍射效应和干涉效应等多种原理产生。

莫氏条纹是光栅位移精密测量的基础，在实际应用中由两个空间频率相近的周期性光栅图形叠加而形成的光学条纹就是莫氏条纹，可以由遮光效应、衍射效应和干涉效应等多种原理产生。

莫氏条纹能从三个方面产生：

1、 双色或多色网点之间的干涉

2、 各色网点与丝网网丝之间的干涉

3、 作为附加的因素，由于承印物体本身的特性而发生的干涉。

使用莫氏条纹防护系统的目的就在于根据你选定的丝网目数、加网线数、印刷色数和加网角度来预测莫氏条纹。